Agilent5975C系列GC/MSD構建在行業、高可靠性和高性能的色譜分析技術堅實的基礎之上，配置三軸HED-EM檢測器，大大增強了產品性能，因此顯著地提高了分析性能，將您的實驗室的GC分析效率推向新的高度。
高溫整體惰性離子源提升儀器的性能
的惰性離子源滿足三個基本要求。化學惰性將活性組分和中性化合物的損失降至zui低。高溫(350?C)有助于高沸點組分的峰形改善，zui大程度地降低了由于高沸點組分導致的離子源的污染。延伸至四極桿內的新穎設計的透鏡，將優化的傳輸離子聚焦到RF/DC場中，得到業內*的信噪比。
*標準的四極桿設計和性能
*的四極桿具有的性能和可靠性。真正雙曲面石英結構的場誤差zui低,分辨率更高和在任何工作溫度下都具有優異的質量軸穩定。事實上，這個非凡的整體穩定性的石英鍍金四極桿允許200?的溫度，從而保證質量分析器在整個生命周期都保持干凈狀態。
三軸檢測器
三軸檢測器將從四極桿傳輸過來的離子束在進入到電子倍增器之前轉兩次彎。這個創新的的設計使得離子的捕集效率提高（信號增強）而中性信號被過濾。檢測器采用新型的三通道倍增器，其放大倍數和壽命都有顯著的提升。安捷倫新型的電子倍增器歸一化調諧優化功能保證了離子數、線性和電子倍增器壽命三者之間達到了*的平衡。而且歸一化調諧使得在倍增器老化之后還能得到一致的靈敏度以及有利于不同氣質之間的結果比對。
微量離子檢測和第二代的解卷積報告軟件（DRS）對于復雜樣品的痕量組分的分析達到了新的水平。
微量離子檢測（TID）從基線，峰和譜圖中過濾掉噪音以提高檢測靈敏度，它可以配或不配解卷積報告軟件（DRS）。對于復雜樣品分析中常見的共流出問題，NISTAMDIS的解卷積計算是氣質分析復雜樣品中痕量組分的*工具。在解卷積處理之后，“干凈”的譜圖可以提供更準確的譜庫檢索結果，基于解卷積分析的定量分析結果降低了目標離子定量分析結果的誤差。氣相色譜/質譜化學工作站將AMDIS的結果集成于Qedit中以及報告中，所以用戶可以快速比較標準和解卷積分析的結果。利用微量離子檢測和解卷積報告軟件（DRS），方法檢測限（MDL）和定量限（LOQ）更低。假陽性和假陰性率更低，所以結果的可信度大大提高。
高性能的選擇離子檢測(SIM)和全掃描
同時進行SIM/Scan的功能能實現在同一次分析采集選擇離子檢測（ＳＩＭ）和全掃描的數據，但是不損失分析靈敏度。選擇離子檢測的離子駐留時間設定范圍一般是100msec到1msec，步進是1msec。自動選擇離子檢測（ＳＩＭ）可以將全掃描質譜數據自動轉換到選擇離子檢測或SIM/scan的參數中，這樣大大節約了分析方法的建立時間。
微板流路控制技術大大提高了分析效率，降低了成本，提升了分析能力
第五代EPC，是惰性、低質量、低死體積的裝置，無泄漏，柱箱內連接，它為提高氣相色譜能力和性能建立了各種配置。對于復雜樣品的GC/MS分析中高沸點組分遲流出峰的問題, 反吹是*的工具。更短的分析時間、更少的離子源污染，更常色譜柱壽命為所有的實驗室帶來效益。毛細管分流器和中心切割（Deansswitching）提高了多檢測器聯用（ＭＳＤ－ＥＣＤ）和中心切割分析方法的可靠性。利用化學工作站控制，這些功能已經成為氣－質聯用分析的常規方法。
氣相色譜/質譜工作站軟件助您完成日常工作中的每一次分析工作
安捷倫氣相色譜/質譜化學工作站軟件操作簡單，即使不是專家也能輕松地將Agilent5975CGC/MSD的功能發揮至*。的功能包括：
維護和可靠性特點
模塊化分析儀裝置可以讓您方便地接觸到離子源和電子倍增器以便快速地進行儀器的日常維護。
前置式玻璃可視窗可使您檢查離子源類型以及連接狀況。
高可靠性的真空系統將長期穩定性發揮到zui大；可選擇無油機械泵，這樣可以*免去維護，降低噪音，以及在含有氨氣那樣的腐蝕性環境中工作。
所有的5975C氣相色譜/質譜聯用儀都配備了三軸檢測器:
5975C inert XL EI/CI MSD—氣相色譜/質譜聯用儀的zui高水平，是全功能的高性能氣相色譜/質譜聯用儀
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